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損害賠償等請求控訴事件(その他・民事訴訟/ランプ安定回路)(平成20(ネ)10003)

判決言渡平成20年6月18日
平成20年(ネ)第10003号
損害賠償等請求控訴事件(原審・東京地裁平成
18年(ワ)第6548号)
口頭弁論終結日平成20年5月7日





インターナショナル・レクティファイヤー
コーポレーション
訴訟代理人弁護士



訴訟代理人弁理士









佐人弁
理士








新電元工業株式会社
訴訟代理人弁護士









補佐人弁理士







本件控訴を棄却する。

控訴費用は控訴人の負担とする。

この判決に対する上告及び上告受理申立てのための付加期間を
30日と定める。
事実及び理由
第1
控訴の趣旨
1原判決を取り消す。

被控訴人は,控訴人に対し,4億円及びこれに対する平成18年4月18日
から支払済みまで年5分の割合による金員を支払え。

被控訴人は,原判決別紙物件目録記載の製品を生産し,譲渡し,輸入し,又
-1-

は譲渡の申出をしてはならない。
4被控訴人は,その占有に係る前項記載の製品を廃棄せよ。
5訴訟費用は,第1審,第2審とも,被控訴人の負担とする。
6第2項について仮執行宣言
第2事案の概要
【略称は原判決の例による。】

一審原告たる控訴人は,家電,民生機器,車載用電子機器,通信機器,人工
衛星などのパワーエレクトロニクスに関連する半導体の製造販売等を業とする
米国法人である。
一審被告たる被控訴人は,パワー半導体やスイッチング電源などのパワーエ
レクトロニクスに関連する半導体の製造販売等を業とする株式会社であり,次
に述べる被告製品を松下電工及びその関連会社に販売している。

本件は,本件特許権1及び2を有している控訴人が,被控訴人に対し,特許
権侵害を理由として,原判決別紙物件目録記載の半導体装置(被告製品)の生
産,譲渡,輸入,譲渡の申出の差止め及び被告製品の廃棄並びに損害賠償金4
億円及びこれに対する不法行為の後の日である平成18年4月18日から支払
済みまで民法所定の年5分の割合による遅延損害金の支払を求めている事案で
ある。

原審の東京地裁は,平成19年10月23日,①被告製品が組み込まれた原
判決別紙回路目録1記載のランプ安定回路(本件ランプ安定回路1)は,本件
特許権1の請求項5(本件特許発明1)の構成要件を充足せず,また,均等で
もないから,本件特許発明1の技術的範囲に属さない,②上記回路目録2記載
のランプ安定回路(本件ランプ安定回路2)は,本件特許権2の請求項1(本
件特許発明2)・請求項3(本件特許発明3)・請求項7(本件特許発明4)
と均等ではないから,本件特許発明2∼4の技術的範囲に属さない等として,
一審原告(控訴人)の請求を棄却した。そこで,これに不服の控訴人が控訴を
-2-

提起した。

当審において控訴人は,本件ランプ安定回路1は本件特許発明1の構成要件
を充足するかそうでないとしても均等である等と主張し,被控訴人はこれを争
った。
第3当事者の主張
当事者双方の主張は,次のとおり付加するほか,原判決「事実及び理由」中
の「第2事案の概要」記載のとおりであるから,これを引用する。
1控訴人
(1)本件特許発明1における「外部タイミングコンデンサ」の解釈

本件特許発明1は,蛍光灯などのランプの駆動回路の安定器(安定回
路)に関するものである。
従来技術においては,ランプ故障が発生した場合,安定回路中の二つの
MOSFETのうちの一方がオンのまま発振が停止する場合があった。ラ
ンプ故障を回復した後に,負荷回路への電力供給を再開すると,一方のM
OSFETがオンのまま発振が停止していた場合は,負荷回路がショート
(短絡)して破壊が起きる場合がある。例えば,MOSFET40がオン
のまま発振が停止した後の回路の再起動において,IC30が先にMOS
FET42をオンするように動作すると,MOSFET40・MOSFE
T42の両方が同時にオンになり,短絡状態が発生する。そのため回路に
大電流が流れ,ヒューズが遮断されたり,MOSFETの一方が破壊され
ることになる。
本件特許発明1は上記課題を解決すべくなされたものである。すなわ
ち,ランプ故障を検知すると(構成要件1−F,1−H。構成要件の分説
は原判決記載のとおり。以下同じ。),第1および第2のMOSゲート型
パワー半導体デバイスをターンオンおよびターンオフさせるための供給
停止させる(構成要件1−F)ことにより,両方のMOSゲート型パワー
-3-

半導体デバイスをターンオフするように動作する(本件明細書1[甲3]
段落【0023】)。ランプ故障をロー論理レベル信号として入力するた
めの外部タイミングコンデンサ(構成要件1−F,1−H)は,シャット
ダウン回路(構成要件1−F)の外部に設けられており,シャットダウン
回路がシャットダウンを開始するタイミングを決定する。これを本件明細
書1の図1でいえば,IC30のCTピンに接続されたコンデンサ14の
電圧が所定のしきい値より低下した場合,IC30からMOSFET40
及びMOSFET42への出力供給を停止するように動作する。これに
よりランプ故障が発生した場合に確実に両方のMOSFETをターンオフ
し,故障等の状態からの回復時の回路破壊を防止するようになっている。
この構成を規定しているのが構成要件1−Fである。
上記から明らかなとおり,本件特許発明1の特徴は,ランプ故障が発生
した場合に確実に両方のMOSFETをターンオフするという構成を採用
した点にある。この構成は,構成要件1−Fに記載されている。ランプ故
障の検知時に「上記第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイ
スをターンオンおよびターンオフさせるための高圧側および低圧出力
上記供給を停止させる」構成を採用することで,故障等の状態からの回復
時の回路破壊を防止できるのである。

本件特許発明1の実施例では,原判決が判示したように,「外部タイミ
ングコンデンサ」(その電圧がしきい値電圧より低いときに,第1および
第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両方を確実にターンオフす
るためのシャットダウン回路を起動するコンデンサ)として,「抵抗との
組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサ」す
なわちCTピンに接続されたコンデンサ14が開示されており,その他
構成は明示的には開示されていない。
しかし,実施例は,当業者による特許発明の実施を可能とするために記
-4-

載される具体例にすぎず,特許発明の技術的範囲が実施例に限定されるも
のではない。
また,その電圧がしきい値電圧より低いときに第1および第2のMOS
ゲート型パワー半導体デバイスの両方を確実にターンオフするためのシャ
ットダウン回路を起動するコンデンサ,すなわち「外部タイミングコンデ
ンサ」が,CTピンに接続されたコンデンサ14でなければならない技術
的理由は,一切ない。
そして,本件明細書1(甲3)には,その電圧がしきい値電圧より低い
ときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両方を確
実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデンサ,す
なわち「外部タイミングコンデンサ」が,CTピンに接続されたコンデン
サ14でなければならない旨の記載はなく,またそれを示唆する記載も一
切ない。構成要件1−Fの文言上も,そのような限定は付されていない。
一方で,ランプ故障を検知して回路をシャットダウンするためのピンを
CTピンとは別個に設ける構成を採用することは,当業者にとって容易に
なし得る設計事項にすぎない。このことは,例えば,乙8(inters
il社のパンフレット)の2頁のFIGURE2や乙9(アイアールファ
イースト株式会社パンフレット)の1頁のブロックダイヤグラムの回
路において,SDピン(ランプ故障を検知して回路をシャットダウンする
ためのピン)がCTピンとは別個に設けられていることからしても,明ら
かである。
SDピンをCTピンとは別個に設けた場合,「その電圧がしきい値電圧
より低いときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイス
両方を確実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデ
ンサ」は,SDピンに接続されたコンデンサであるから,必然的に「抵抗
との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデン
-5-

サ」すなわちCピンに接続されたコ

ンデンサとは別個のものになる。
したがって,本件明細書1の実施例に基づいて,「その電圧がしきい値
電圧より低いときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイ
スの両方を確実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコ
ンデンサ」と「抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数
を定めるコンデンサ」を別個のものする回路構成を採用することは,容易
になし得た設計事項にすぎないことが明らかである。

よって,本件明細書1の記載に照らし,また本件特許発明1の出願当時
(平成9年10月17日)の技術水準を参酌すれば,構成要件1−F及び
構成要件1−Hの「外部タイミングコンデンサ」とは,「その電圧がしき
い値電圧より低いときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デ
バイスの両方を確実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動す
コンデンサ」と解すべきであって,これに加えて「抵抗との組み合わせ
により自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサ」でもなければ
ならないと限定して解釈すべき理由はない。

それにもかかわらず,原判決は,「本件明細書1における上記実施例
が,…『本発明の一態様』として記載された【課題を解決するための手段
】を具体化したものであり,本件明細書1には,上記実施例以外の実施例
の記載が全くないことからすれば,本件特許発明1における『外部タイミ
ングコンデンサ』は,抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振
周波数を定めるコンデンサであり,かつ,その電圧がしきい値電圧より低
いとシャットダウン回路を起動するものであると認めるのが相当であ
る。」(69頁下4行∼70頁3行)と述べて,特許発明の技術的範囲を
実施例に限定して解釈するという誤りを犯している。
(2)本件特許発明1の出願経過の参酌
判決は,本件特許発明1の出願経過に照らしても,原判決の「外部タイ
-6-

ミングコンデンサ」の解釈が裏付けられると判示している(70頁4行∼7
2頁下8行)。しかし,以下のとおり,この判示は誤っている。

補正は,大別すると,新規性・進歩性欠如(特許法29条)の問題を克
服するためになされる場合と,記載要件不備(同法36条)の問題を克服
するためになされる場合に分類することができる。新規性・進歩性欠如の
問題を克服するための補正において特許請求の範囲が「減縮」された場
合,当該補正により除外された部分は,包袋禁反言則により技術的範囲に
属するとの主張が許されなくなる。しかし,記載要件不備の問題を克服す
るための補正においては,仮に従前の特許請求の範囲にさらに何らかの文
言が付加されたとしても,それは従前の文言が言葉足らずで発明を明確に
特定できていないという問題に対処して,特許請求の範囲の文言上発明を
「明確にする」ためになされるものであって,補正により何らかの発明を
除外するという性質のものではないから,包袋禁反言則の適用の前提を欠
く。したがって,補正に伴って提出された意見書の趣旨の把握において
も,記載が新規性・進歩性と記載要件不備のいずれに関するものであるか
を適切に把握しなければならない。
補正の趣旨が新規性・進歩性欠如と記載要件不備のいずれであるかの判
断においては,拒絶理由通知に記載された条項を基に形式的に判断するこ
とは妥当でなく,引例に開示された内容を参酌した上で,補正の目的及び
意見書の記載を吟味して判断すべきである。なぜなら,拒絶理由通知にお
いては新規性・進歩性欠如が指摘されたが,それは特許請求の範囲の記載
が不明瞭であったために審査官に発明の構成が正確に理解されず,それゆ
えに本来は記載要件不備を通知すべきであったにもかかわらず,新規性・
進歩性欠如が通知されるような場合があるからである。

平成11年7月29日になされた本件補正(甲10)は,シャットダウ
ン回路が外部タイミングコンデンサの電圧に基づいて動作する旨を追加し
-7-

たものである。具体的には,構成要件1−Fに「外部タイミングコンデン
サ上の電圧からなる」という文言を加え,構成要件1−Hを加えたもので
ある。また,同日付けで本件意見書(甲11)が提出されている。
本件特許1の出願当初明細書(特許願,甲5)の特許請求の範囲の請求
項6(補正後の請求項5に相当)においては,シャットダウン回路に接続
される信号としては単に「上記ロー論理レベル信号」と記載されていただ
けで,しかも,発明の詳細な説明及び図面のいずれにおいても「上記ロー
論理レベル信号」の語が用いられていない。この点に鑑みれば,「上記
ー論理レベル信号」が具体的にいかなる信号を意味するのか不明確であ
り,そのために本件特許発明1の技術的意義が請求項の記載からは必ずし
も明確であったといえなかった。
さらに,本件補正前は本件特許発明1の技術的意義が特許庁審査官に理
解されていなかったことが,本件拒絶理由通知(甲6)の「理由」で,
「引用文献1,2にはシャットダウン回路を有するものが,引用文献1∼
3には遅延回路を有するものが記載されており,本願発明が,当業者にと
って格別なものであるとは認められない。」と記載されていることから強
くうかがわれる。なぜなら,本件特許発明1の特徴は,ランプ故障時に第
1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両方をターンオフ
することにある。本件明細書1(甲3)は,シャットダウン回路・遅延回
路を有すること自体は公知技術であることを当然の前提としており,その
旨の明示的記載もある。例えば,従来技術として記載されている【図3】
及び【図4】の回路には,ランプ故障を検知しシャットダウンする回路
(抵抗62・64・66,コンデンサ68及びトランジスタ60又はSC
R70から構成される回路)が含まれており(ただし,従来技術の【図3
】及び【図4】のシャットダウン回路は,自己発振駆動回路の発振を停止
するだけで,本件特許発明1のように第1および第2のMOSゲート型パ
-8-

ワー半導体デバイスの両方をターンオフするものではない),それに関す
る記載もある(段落【0016】∼【0022】)。また,従来技術とし
て記載されている図2は,デッドタイム遅延回路を備えた回路の波形であ
ることが明示されているし,それに関する記載もある(段落【0015
】)。一方,本件拒絶理由通知で引用された三つの引例(甲7∼9)のい
ずれにも,本件特許発明1の特徴であるランプ故障時に第1および第2の
MOSゲート型パワー半導体デバイスの両方をターンオフする構成は,開
示も示唆もされていない。もし本願発明の特徴が正しく把握されているの
であれば,従来技術としている構成が開示されているにすぎず,発明の特
徴的部分に関する開示も示唆もない引例をもとに進歩性欠如の拒絶理由を
発することは考えられない。それにもかかわらず,公知文献にシャットダ
ウン回路・遅延回路が開示されていることのみを理由にその旨の拒絶理由
が発せられたということは,発明の特徴が正しく把握されていないことを
示している。
本件補正は,上記のような点に鑑みて,本願発明の技術的意義をより明
確にするために,故障検出回路からの出力を「上記ロー論理レベル信号
としてICに入力するために「外部タイミングコンデンサ上の電圧」とし
て検知すること,及び,「シャットダウン回路」が「上記外部タイミング
コンデンサ上の電圧を上記しきい値電圧と比較するしきい値電圧検出回路
を有する」ものであることを請求項に明記したものであって,その技術的
範囲に変化はない。
また,「外部タイミングコンデンサ上の電圧からなる」という追記が
上記ロー論理レベル信号」の意義を明確化しただけで,限定したもので
ないことは,本件拒絶理由通知(甲6)で引用された本件引用文献1(甲
7)の開示内容に照らしても明らかである。なぜなら,本件引用文献1
(特開平8−37092号公報,甲7)の図4には,シャットダウン回路
-9-

に接続される「上記ロー論理レベル信号」が「外部タイミングコンデンサ
上の電圧からなる」回路が開示されており,「上記ロー論理レベル信号
が「外部タイミングコンデンサ上の電圧からなる」ものであることを追記
しても,公知文献との差異を設けることにはならないからである。

この点,原判決は,「また,原告は,外部タイミングコンデンサの電圧
とCTピンの電圧とを同じ値を示すものとした上で…,拒絶理由通知に示
された引例との差異をより明確にするため,シャットダウン回路が外部タ
イミングコンデンサの電圧に基づいて動作する旨を追加する本件補正を行
って…,特許査定を受けたものである。」と判示している(74頁7行∼
12行)。
しかし,原判決は,本件補正が新規性・進歩性欠如と記載要件不備のい
ずれの問題を克服するためになされたものであるかの検討さえ行わないま
ま,進歩性欠如の問題であると決め込んだ上で,本件意見書の記載を解釈
している。その結果,原判決は,本件意見書の記載の趣旨を誤って把握し
ている。

判決が引用している本件意見書(甲11)の記載のうち,以下の(ア)
∼(ウ)(原判決70頁10行∼17行)については,上記イのとおり,従
前の特許請求の範囲で不明瞭であった点を「明確化」するために補正した
旨を述べたものであり,特許請求の範囲を「減縮」した趣旨でないこと
は,引例に開示された内容も参酌して本件意見書を読めば明らかである。
(ア)
「請求項1におきましては,引例との差異をより明確にするため,
シャットダウン回路が外部タイミングコンデンサの電圧に基いて動作す
る旨を追加する補正を行いました。」(意見書[甲11]1頁9行∼1
1行)
(イ)
「請求項4(旧請求項5)におきましては,請求項1との対応を正
確にするため『外部タイミングコンデンサ』を『上記外部タイミング
-10-

ンデンサ』に変更しました。」(意見書1頁16行∼18行)
(ウ)
「請求項5(旧請求項6)におきましても請求項1と同様の補正を
行いました。」(意見書1頁19行)
ここで本件意見書の(ア)が単に「引例との差異を明確にするために」で
はなく,「引例との差異をより明確にするために」と記載していることに
も留意すべきである。「より明確に」とは,従前の明細書の記載でも本願
発明と引例との差異は一応理解可能ではあるが,不明瞭な点があることも
否定できないことから,差異の存在をさらに明確にするために補正したと
いうことを強調している趣旨である。
仮に本件補正が特許請求の範囲を減縮することで引例との差別化を図
り,進歩性欠如を克服することを目的としてなされたものであれば,本来
は「引例との差異を区別可能とするために」と記載すべきであろうが,こ
れと対比すれば,上記(ア)の「引例との差異を明確にするために」は,記
載の不明瞭さを解消する目的でなされたものである趣旨と理解し得る。
以上のとおり,この点に関する原判決の認定は誤りである。

次に,原判決が引用している本件意見書の記載のうち,以下の(ア)∼(
オ)(原判決70頁18行∼71頁下1行)については,本件明細書1の
実施例の記載に基づいて引例と本願発明との差異を論じている部分であ
り,やはり特許請求の範囲の限定解釈の根拠となるものではない。
(ア)
「本願発明は,障害が発生し,外部タイミングコンデンサ14の電
圧すなわち外部タイミングコンデンサに接続されるICのピン(CTピ
ン)の電圧が所定のしきい値レベルより低くなった場合に,スイッチ
トランジスタに対するゲート駆動信号を不能にすることによって,ス
イッチングトランジスタを完全にシャットダウンするものです。これに
よりスイッチングトランジスタの破壊のようなICに対して非常に有害
な状況の発生を確実に防止するという効果を有します。」(意見書1頁
-11-

21行∼26行)
(イ)
「引用文献1の回路は,不足電圧状態の発生時において,ハーフブ
リッジ接続されたトランジスタ(引用文献中,トランジスタ20,2
1)のスイッチング動作を停止させるようにのみ動作し,CTピン上で
の電圧降下に基いては活動化されず,トランジスタのゲート駆動信号
ターンオフするというような動作は行ないません。」(意見書4頁2行
∼6行)
(ウ)
「本引例のシャットダウン回路は,ランプの障害または除去による
負荷電流変化に基いてシャットダウンするものでありますが,本願発明
のように,外部タイミングコンデンサ(CTピン)の電圧降下を検出
し,これに基いてトランジスタのゲート駆動信号をターンオフさせるも
のではありません。」(意見書4頁10行∼14行)
(エ)
「本願発明は,障害が発生し,外部タイミングコンデンサ14に接
続されるCTピンの電圧が所定のしきい値レベルより低くなったとき
に,図6に示すようにスイッチングトランジスタ40,42に対するゲ
ート信号H0,L0を不能状態(ロー)にすることによって,スイッチ
ングトランジスタ40,42の完全なシャットダウンを可能とするもの
です。このように障害発生を外部タイミングコンデンサ14の電圧(す
なわちCTピン)の電圧により検出し,スイッチングトランジスタ
0,42を完全にシャットダウンするという点はいかなる引例において
も開示されておらず,また,示唆もされておりません。」(意見書4頁
22行∼29行)
(オ)
「以上,説明しましたように,本願発明の特徴である,障害発生時
に外部タイミングコンデンサの電圧(すなわちCTピンの電圧)が所定
しきい値レベルより低くなった場合に,スイッチングトランジスタ
対するゲート駆動信号を不能にすることによって,それらのスイッチ
-12-

トランジスタを完全にシャットダウンするための構成は,上記のいか
なる引例においても開示されておらず,また,示唆もされておりませ
ん。また,本願発明は,障害発生時にスイッチングトランジスタを完全
シャットダウンすることにより,障害から回路を確実に保護できると
いう点において引例に対して優れた効果を有しております。」(意見書
6頁7行∼14行)
一般に,意見書において本願発明と引例との差異を説明する場合に,特
許請求の範囲中の構成要件に対応する実施例の部材の名称や図中の符号を
用いて説明することはしばしば行われることである。なぜなら,特許請求
の範囲の文言は抽象的に記載されており具体性を欠いているので,特許請
求の範囲の文言だけを用いて説明すると,どうしても抽象論に陥り,引例
との構成の差異や効果の相違等を明確に説明できないという嫌いがある。
これに対して,特許請求の範囲に対応する実施例を基に説明すれば,引例
との具体的な差異を明らかにすることが相対的に容易になるからである。
このような理由から,本件意見書の上記(ア)∼(オ)の記載も,実施例の記
載を参照しつつ引例との差異を述べているのである。
したがって,本件意見書の上記(ア)∼(オ)の記載を根拠として特許請求
の範囲の文言を限定的に解釈することは誤りである。そのような解釈は,
特許請求の範囲の文言を明細書の実施例に限定して解釈したこと,すなわ
ち実施例限定解釈に他ならない。
以上のとおり,この点に関する原判決の認定も誤りである。
(3)(1)と(2)のまとめ
以上の(1)と(2)に述べたところから明らかなとおり,本件明細書1(甲
3)及び本件意見書(甲11)のいずれによっても,構成要件1−F及び1
−Hの「外部タイミングコンデンサ」の意義は,「その電圧がしきい値電圧
より低いときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両
-13-

方を確実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデン
サ」を意味すると解すべきであって,「抵抗との組み合わせにより自己発振
駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサ」をも兼用するものと限定解釈す
る理由はない。
そして,本件ランプ安定回路1が「その電圧がしきい値電圧より低いとき
に第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両方を確実にタ
ーンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデンサ」に該当する
構成を備えていることは,被控訴人も争っていない。
(4)本件特許発明1の本質的部分

判決は,本件明細書1の実施例の記載及び本件意見書の上記(2)エ及
びオの記載を根拠として,「…本件特許発明1は,外部タイミングコンデ
ンサの電圧,すなわち外部タイミングコンデンサに接続されるCTピンの
電圧が所定のしきい値電圧より低くなったときに,高圧側及び低圧側のM
OSゲート型パワー半導体デバイスに対するゲート駆動信号をターンオフ
すること(それにより,高圧側及び低圧側のMOSゲート型パワー半導体
デバイスを完全にシャットダウンすること)をその発明の本質的特徴とす
るものであることが認められる。」と判示している(74頁13行∼18
行)。

しかし,本件明細書1の「外部タイミングコンデンサ」が,文言上は,
CTピンに接続される「抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発
振周波数を定めるコンデンサ」を意味すると解する立場を前提としても,
本件特許発明1の本質的部分を同様に解すべき理由はない。
上記(1)イのとおり,本件特許発明1は,ランプ故障時に駆動回路の構
成部品が破壊されることを防止し,またランプのパワースイッチを切り換
えなくとも自動的にランプ駆動回路を再起動することを可能とするという
技術的課題を解決するために(本件明細書1段落【0023】),ランプ
-14-

故障が発生した場合に確実に両方のMOSFETをターンオフするという
構成を採用した点にある。当該技術的課題を解決するための当該構成とし
ては,その電圧がしきい値電圧より低いときに第1および第2のMOSゲ
ート型パワー半導体デバイスの両方を確実にターンオフするためのシャッ
トダウン回路を起動するコンデンサすなわち「外部タイミングコンデン
サ」が,CTピンに接続されたコンデンサ14でなければならない技術的
理由は,一切ない。かつ,本件明細書1には,「外部タイミングコンデン
サ」がCTピンに接続されたコンデンサ14でなければならない旨の記載
はなく,またそれを示唆する記載も一切ない。構成要件1−Fの文言上
も,そのような限定は付されていない。
さらに,本件意見書(甲11)にも本件特許発明1の本質的部分を原判
決のように限定的に解さなければならない記載もない。原判決は,引例の
内容の検討を怠ったために誤った解釈に至っている。本件意見書の上記
(2)エの記載は,従前の特許請求の範囲の不明瞭さを解消するため,換言
すれば記載要件不備を解消するためになされたものであり,したがってこ
れを根拠に特許発明1の本質的部分を限定的に解釈することはできない。
また,本件意見書の上記(2)オの記載は,本件明細書1の実施例の記載を
前提として,引例との差異を説明している部分である。実施例の記載は,
出願当初明細書のままであり,補正はされていないから,本件意見書の上
記(2)オの記載は,本件明細書1の出願当初明細書からの記載を前提とし
て,引例との差異を具体的に説明しているにすぎず,特許請求の範囲を減
縮した趣旨に解し得る根拠は一切ない。
また,仮に本件拒絶理由通知において引用された引例に,ランプ故障検
知用のコンデンサ(CTピンに接続されたものに限定されない)の電圧が
所定のしきい値電圧より低くなったときに,高圧側及び低圧側の両方のM
OSゲート型パワー半導体デバイスに対するゲート駆動信号をターンオフ
-15-

する(それにより,高圧側及び低圧側の両方のMOSゲート型パワー半導
デバイスを完全にシャットダウンすること)構成又はそれに類する構成
が開示されていたならば,本件意見書の上記(2)エ及びオの記載をもって
当該コンデンサがCTピンに接続されたものに限定されることを述べたも
のと解釈することも正当化されよう。このような場合には,進歩性欠如を
克服するために,特許請求の範囲を減縮する必要があり,当該減縮により
除外された部分は本質的部分でないということになるからである。それに
もかかわらず,原判決は,引例の検討を全く怠ったまま,本件意見書の趣
旨を限定的に解釈するという過ちを犯している。実際には,本件拒絶理由
通知において引用された三つの引例(甲7∼9)のいずれにも上記のよう
な構成は開示も示唆もされていない。
以上のとおり,本件特許発明1の本質的部分は,ランプ故障検知用のコ
ンデンサ(CTピンに接続されたものに限定されない)の電圧が所定のし
きい値電圧より低くなったときに,高圧側及び低圧側の両方のMOSゲー
ト型パワー半導体デバイスに対するゲート駆動信号をターンオフすること
(それにより,高圧側及び低圧側の両方のMOSゲート型パワー半導体デ
バイスを完全にシャットダウンすること)であるというのが正当な解釈で
あり,原判決は誤りである。

そして,本件ランプ安定回路1が「その電圧がしきい値電圧より低いと
きに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両方を確実
にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデンサ」に該
当する構成を備えていることは,被控訴人も争っていない。
したがって,本件特許発明1と被告製品が組み込まれた本件ランプ安定
回路1は,本質的部分が一致している。
(5)
なお,本件引用文献2(特開平6−188090号公報,甲8)の回路
は,回路の発振を停止して,高圧側MOSFETと低圧側MOSFETのタ
-16-

ーンオン処理をそれ以上繰り返すことを停止する,すなわち発振を停止する
よう動作する回路であって,本件特許発明1の「シャットダウン回路」(構
成要件1−F)のように,ランプ故障等の検知時に両方のMOSFETを共
に確実にターンオフする回路ではない。
また,本件引用文献1(特開平8−37092号公報,甲7)の低電圧
ロックアウト回路105は,ICに供給される電源電圧が低下したときに,
ICが不安定な電圧で動作することによってIC内部の論理回路が誤動作し
ないようにするための回路であって,本件特許発明1の「ランプ故障等の検
知時に第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイス(MOSFE
T)をターンオフする回路」とは全く異なる回路である。

被控訴人
(1)本件特許発明1の内容について
本件明細書1(甲3)は,主に二つの先行技術を説明している。【図3】
と【図4】である。【図3】の先行技術は段落【0016】から【0018
】に説明されているが,発振回路を止めるだけの仕組みなので,両方のMO
SFETがオフになるとは限らない。
これに対して【図4】の先行技術は,段落【0019】以下に説明されて
いるが,回路としては,両方のMOSFETをオフにするものである。ただ
し,ICの電源電圧を落とすので,所定の通りに働かない可能性がある。こ
の点について,段落【0022】の中で,「…dv/dtは制限されなけれ
ばならない,なぜならば,出力段がパワーMOSFETのゲートを完全に放
電させてしまう前に,ゲート駆動出力段に対する電源電圧がターンオフして
もよいからである。例えば,もし,上段のパワーMOSFET40がオン
し,電源電圧が急速に0Vになった場合,パワーMOSFET40はオフさ
れず,MOSFETを放電する生来のゲート−ソース間のリークのみによる
電荷(すなわち電圧)を,事実上,パワーMOSFET40のゲート上に有
-17-

したままとなる。…」と記載されている。
本件特許発明1では,CTピンで起動する,両方のMOSFETをオフに
する回路をIC内に設けた。これを使う際には,【図3】の場合と同様の外
部回路となる。本件特許発明1の場合にはIC内に両方オフの回路があるか
ら,従来例での【図3】では単に発振が止まるだけであるのとは違って,両
方がオフになり,ショートの危険が避けられる。【図3】との比較でいえ
ば,両方オフにするのが本件特許発明1の特徴だが,【図4】との比較でい
えば,Cピンを兼用して使って

いることにこそ特徴がある。
そして,本件明細書1(甲3)では,CTピン起動で両方のMOSFET
をターンオフするというだけで,その両方オフのための回路自体に特色のあ
るものが開示されている訳ではない。本件明細書1(甲3)の段落【003
9】には,「…さらに,CTピンを使用した新しいシャットダウン機能も備
えている。本発明によれば,以下の2つのさらなる回路ブロックが追加され
ている。すなわち,(1)CT検出用の第3のコンパレータ118および
(2)シャットダウンラッチ回路124が追加されている。入力ピンCT
は,CTピン電圧が分圧回路112により供給される所定のしきい値(VR
3として示される)よりも低くなるときを検出する第3のコンパレータ11
8の負入力に接続される。そのとき,第3のコンパレータ118は,その出
力をシャットダウンラッチ回路124および低圧側のデッドタイム遅延回路
130に供給する。シャットダウンラッチ回路124の出力は,次に,高圧
側のデッドタイム遅延回路126の入力供給される。」と説明されてい
る。本件特許発明1では,それぞれの「デッドタイム遅延回路」を介して両
方のMOSFETをターンオフしているだけなのである。これは,一般的な
低電圧ロックアウト回路の場合と同じである。
こうした明細書の内容であるから,CTピン兼用が特許請求の範囲で規定
されているのが当然である。特許請求の範囲だけを取り出すと必ずしも分か
-18-

りやすくはないが,「上記ロー論理レベル信号」により,こうした趣旨が規
定されている。審査段階での控訴人の主張でも,そのような内容であった。
発明内容からいってCTピン兼用が要件となっているべきであることは自明
である。
(2)先行技術について
本件引用文献2(特開平6−188090号公報,甲8)には両方のMO
SFETをターンオフする回路が記載されている。本件引用文献2の段落【
0023】には「MOSFET25および27の着火を阻止することによっ
て,ランプは完全にシャット・オフされる」(「BOSFET」は「MOS
FET」の誤記)との記載がある。「着火」については,他の箇所の用語法
から「導通させる(オンにする)」という意味だと分かるので,この記載は
まさに両方のMOSFETをオフにすることを意味している。
また,本件引用文献1(特開平8−37092号公報,甲7)にも,低電
圧時の対処の回路として,両方のMOSFETをターンオフする回路が出て
いる。甲7のそれは低電圧時用とはいえ,本件特許請求の範囲にはこうした
目的の場合を除く記載はないし,また,この回路を不具合時対処のために流
用することは従来技術であって,その旨が本件明細書1に説明されている。
控訴人が主張するように,本件特許発明1に,「その電圧がしきい値電圧
より低いときに第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの両
方を確実にターンオフするためのシャットダウン回路を起動するコンデン
サ」と「抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定める
コンデンサ」を別個のものする回路構成が含まれるのであれば,本件特許発
明1は,無効である。
(3)本件補正について
控訴人は,本件補正が「明確化」と「特許請求の範囲の減縮」とのどちら
であったかを問題とする。本件特許発明1にかかる出願当初の請求項の記載
-19-

が,適切な規定を有したものであったかどうかが不明瞭であるために,そこ
から単に「明確化」したのかそれとも「減縮」したのかは,確定しがたいと
ころがある。しかし,現に成立した請求項5が,「兼用」を規定していると
理解するべきことに疑問はない。
第4
当裁判所の判断

当裁判所も,控訴人の本訴請求はいずれも理由がないと判断する。その理由
は,本件特許権1の侵害の有無に関する争点1,2の判断(原判決63頁9行
∼74頁下1行)を削除して次のとおり改めるほか,本件特許権2の侵害の有
無に関する原判決75頁1行∼79頁15行の記載(争点5,6,8に対する
判断)を引用する。

争点1(本件ランプ安定回路1は,本件特許発明1の技術的範囲に属するか
[本件ランプ安定回路1は,本件特許発明1の構成要件1−F,1−Hを充足
するか])について
(1)
本件明細書1(甲3)の「特許請求の範囲」請求項5は,原判決記載の
ように,次のとおり分説される。
1−A直流バス電源により負荷回路を駆動する回路において,
1−B
直流バス電源に接続され,直流バス電源に接続された第1および第
2の直流端子と,負荷回路に対して出力信号供給するための共通端
子とを有するハーフブリッジの構成で接続された第1および第2のM
OSゲート型パワー半導体デバイスと,
1−C
上記共通端子は,上記第1及び第2のMOSゲート型パワー半導体
デバイス間のノードにおいて設けられており,
1−D
上記第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスをそれ
ぞれ駆動するための第1および第2の出力と,
1−E
上記第1および第2のMOSゲートパワー半導体デバイスのうちの
一方のターンオンを,上記第1および第2のMOSゲートパワー半導
-20-

デバイスのうちの他方のターンオフ後,遅延時間間隔の間,遅延さ
せることにより,上記第1および第2のMOSゲートパワー半導体デ
バイスの同時駆動を防止するデッドタイム遅延回路と,
1−F
外部タイミングコンデンサ上の電圧からなる上記ロー論理レベル信
号がしきい値電圧より低いときに,上記第1および第2のMOSゲー
ト型パワー半導体デバイスをターンオンおよびターンオフさせるため
の高圧側および低圧出力上記供給を停止させるための上記ロー論
理レベル信号に接続されたシャットダウン回路と
1−Gを有する自己発振駆動回路とからなり,
1−H
上記シャットダウン回路は,上記外部タイミングコンデンサ上の電
圧を上記しきい値電圧と比較するしきい値電圧検出回路を有する
1−Iことを特徴とする回路。
(2)
また,本件明細書1(甲3)の「発明の詳細な説明」には,次の各記載
がある。
ア発明の属する技術分野
「本発明はランプの安定器であって,特に,ランプの故障から保護する
改善されたランプ安定器に関する。」(段落【0001】)
イ従来の技術
「あるランプ装置が故障モードの間,安定器ICを適切にシャットダウ
ンするためには,故障状態(故障したフィラメントまたは起動時に点灯を
失敗したランプのような)を検出したときにゲート駆動出力をオフし,そ
の後,出力パワートランジスタをオフする手段が必要である。」(段落【
0003】)
「図1は典型的なランプ駆動回路の構成を示した図である。ブリッジ
流器10はac(交流)線からバス電圧(VBUS)を生成する。バス電圧
VBUSは近似的に直流であり,コンデンサ56および58によりサポート
-21-

される。」(段落【0005】)
「図1のランプ駆動回路は,MOSゲート駆動チップ30と,それに関
連する,高圧側のMOSFET40および低圧側のMOSFET42の動
作を制御する回路構成とを含む。MOSゲート駆動チップ30は,VBUS
に接続されたMOSFET40および42に対して駆動信号を与える。こ
こでは,パワーMOSFETが示されているが,IGBTやMOSゲート
サイリスタのようなMOSゲートを有する任意パワーデバイスがパワ
ーMOSFET40,42の代わりに用いられてもよい。」(段落【00
06】)
「MOSFET40および42からなるハーフブリッジ中央タップの
出力は,インダクタ素子46とコンデンサ52とからなる直列LC負荷回
路を含む回路を駆動する。」(段落【0007】)
「端子VBUSで供給される電圧は,供給される交流入力電圧に依存し,
直流140ボルト程度の低い値から直流600ボルトより高い値までの範
囲を取り得る。」(段落【0008】)
出力回路の発振周波数はインダクタ素子46とコンデンサ52との共
振周波数により制御される。インダクタ素子46の所望のインダクタンス
値は電圧VBUSの値に依存し,回路の発振周波数が所望の範囲内になるよ
うに選択される。」(段落【0009】)
「チップ30は8ピンDIPまたは表面マウントパッケージ(surface
mountpackage)の中に収容されてもよく,以下のようなピン出力を有する


−直流電源V
cc
からチップ動作電圧
BUS
を受けるためのピン。
CT−タイミングコンデンサ14とタイミング抵抗16との間のノード
に接続された単一入力制御ピン。ピンCTでの信号はH0とL0の両出力
制御する。
-22-

R−タイミング抵抗

16の他端に接続されたピン。
VB−高圧側スイッチ動作のために電力を供給するブートストラップ
路として働くダイオード22とコンデンサ24とのノードに接続されたピ
ン。
H0−高圧側MOSFET40のゲート(すなわち,ゲートに対する抵
抗26)に対する出力ピン。
VS−トーテムポール接続すなわちハーフブリッジ接続されたMOSF
ET40および42の中心タップに対するピン。
L0−低圧側MOSFET42のゲート(すなわち,ゲートに対する抵
抗28)に対する出力ピン。
COM−負極すなわちグランド端子に接続されたピン。」(段落【00
10】)
「抵抗18およびコンデンサ12はIC30に対して直流および交流
必要な電力を与える。抵抗16およびコンデンサ14は,次式で定まる発
振周波数を制御する:
f=1/(1.4RC
16

14
…(1)」(段落【0011】)
「ダイオード22とコンデンサ24とはIC内の浮遊CMOS駆動回路
に対してブートストラップ電源回路を形成する。抵抗26および28は,
パワーMOSFET40および42のLCリンギングを抑さえ,また,I
C30を電力段から緩衝する。」(段落【0012】)
「インダクタ素子46と共振コンデンサ52を含む負荷回路は,さら
に,阻止コンデンサ56および58,正温度特性(PTC:a
positivetemperaturecoefficient)抵抗54並びにランプ50を有する。
コンデンサ44は通常,ノードVSで観測されるdv/dtを制御し,放
射されるEMIを最小にする。」(段落【0013】)
ウ発明が解決しようとする課題
-23-

「この基本回路の欠点は,もし,ランプが壊れるか(その動作寿命が尽
きたときのように)もしくは回路から取り外されたとき,回路内の他の構
成部品が破滅的に故障をするかもしれないことである。それゆえ,ゲート
駆動IC30の使用者は,故障の状態を検出してICをオフする別個の外
部回路要素を設計しなければならない。好ましくは,ゲート駆動ICの両
出力は,ターンオフ状態のもとでゲート駆動ICをオフする。」(段落【
0014】)
「ゲート駆動ICは自己発振しているため,ゲート駆動出力L0および
H0−VSのうちの1つは図2に示す短いデッドタイムの期間を除いて常時
オンとなる。通常の動作状態では,MOSFET40あるいはMOSFE
T42のいずれかがオンとなる。結果として,例えば図3に示すように,
単純にタイミングコンデンサ14により外部にグランドまで分路を形成す
ることによりゲート駆動ICをオフすることは,回路を保護するのには充
分でない。」(段落【0015】)
「図3は,ランプが取り外されたときに入力制御コンデンサ14のグラ
ンドへの分路を形成するためのトランジスタ60を含む,図1を改変した
回路を示す。抵抗62,64,66により形成される分圧回路およびコン
デンサ68は検出回路を構成する。通常の動作状態では,ノードVAでの
電圧は近似的に直流電源電圧の半分の値,すなわちVBUS/2に等しい。
このとき,コンデンサ56と58は同一の値である。ノードVAの電圧
と,コンデンサ56とコンデンサ58の中間点におけるノードの電圧との
唯一の違いは,ランプ50のフィラメントでの電圧降下により生ずる。」
(段落【0016】)
「通常動作状態では,フィラメントでの電圧降下は比較的に小さく,す
なわち,数ボルトのみであり,また,ノードVCの電圧は分流トランジス
タ60をオンさせるのに不十分である。しかしながら,もし,ランプが取
-24-

り外されると,ノードVCの電圧と同様にノードVAの電圧は上昇し,トラ
ンジスタ60はオンする。抵抗62,64,66の値は,回路が通常動作
状態の間トランジスタ60を決してオンさせず,ランプが取り外されたと
きもしくは故障した時には常にトランジスタ60をオンさせるような値に
選択されている。コンデンサ68もまた,ターンオフ応答回路における低
域通過フィルタ(それにより,ノイズ低減を増大させる)の一部を形成し
ている。」(段落【0017】)
「しかしながら,図3に示す回路は,ランプが負荷回路から取り外され
たときに,パワーMOSFETデバイス40および42の両方ともをシャ
ットダウンするわけではない。このランプがない負荷状態においては,I
C30のCTピンはトランジスタ60によりグランドに接続され,それに
より,望ましいように,ICの内部発振とその出力の切り換えとが停止さ
れる。しかしながら,ハーフブリッジの出力をオフしたにもかかわらず,
トランジスタ42はオンのままである。」(段落【0018】)
「故障状態においてMOSFET40および42の両方をシャットダウ
ンするもう一つの方法は,図4に示すようにICグランドにVCCピンの分
路を形成することである。ここで,検出回路は本質的に図3のものと同じ
であるが,SCR70が出力をシャットダウンするために抵抗72を介し
てVピンの分路を形
CC
成している。」(段落【0019】)
「図4の回路の欠点は,ソケット内でランプが交換されるときのように
故障状態が終了したときに,チップに供給される電源電圧VCCがその不足
電圧のしきい値以下に放電されているため,全体の電力上昇手順が繰り返
されなければならないことである。実際には,回路はパワートランジスタ
40,42の両方をオフさせるためにIC30の不足電圧ロックアウト回
路122に依存している。」(段落【0020】)
「図4の回路のさらなる欠点は,SCR70が図3のNPNトランジス
-25-

タ60よりもより高価な部品であることである。」(段落【0021】)
「さらに,抵抗72が,VCCピンでのdv/dtを緩やかに降下させる
ようにするためにVCCコンデンサ放電経路に含まれなければならないこと
である。dv/dtは制限されなければならない,なぜならば,出力段が
パワーMOSFETのゲートを完全に放電させてしまう前に,ゲート駆動
出力段に対する電源電圧がターンオフしてもよいからである。例えば,も
し,上段のパワーMOSFET40がオンし,電源電圧が急速に0Vにな
った場合,パワーMOSFET40はオフされず,MOSFETを放電す
る生来のゲート−ソース間のリークのみによる電荷(すなわち電圧)を,
事実上,パワーMOSFET40のゲート上に有したままとなる。定在す
る電荷は,上段のMOSFET40がオンのままIC30が再起動する
と,破滅的な故障を引き起こす。IC30が再起動したとき,すなわち,
そのVCC電圧が上昇する不足電圧ロックアウトしきい値を越えたとき,下
段のパワーMOSFET42が最初にオンする。トランジスタ42がオン
したときに,もし,トランジスタ40がオンのままであれば,dc(直
流)バスとac(交流)線とに対して短絡が発生し,ごくまれにはヒュー
ズが遮断されるが,ほとんどの場合,パワーMOSFETの少なくとも一
方が破壊される。」(段落【0022】)
「本発明は,上記課題を解決すべくなされたものであり,その目的とす
るところは,ランプを駆動する集積回路において,駆動出力の双方が不能
になることによりランプが故障したとき,または,ランプが取り外された
ときに,駆動回路の構成部品を損失から保護する安定器集積回路を提供す
ることにある。また,ランプ交換時において,ランプのパワースイッチを
切り換えなくとも,自動的にランプ駆動回路を再起動する安定器集積回路
を提供することを目的とする。」(段落【0023】)
エ課題を解決するための手段
-26-

「本発明の一態様において,集積回路は,第1および第2の直流端子
と,負荷回路に出力信号を供給する共通端子とを有するハーフブリッジ回
路において接続された第1および第2のMOSゲート型パワー半導体デバ
イスを駆動する回路であり,共通端子を第1のMOSゲート型パワー半導
体デバイスと第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスの間のノードに
設けたシリコン基板上に形成された集積回路である。その集積回路は,外
部タイミングコンデンサの電圧からなるロー論理レベル信号に接続された
入力制御端子を有するタイマ回路と,タイマ回路に接続され,第1および
第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスをオンおよびオフに切り換え
る周波数を制御し,また,入力制御端子に印加される信号に応じて切り換
わる出力を供給する第1のラッチ回路と,第1のラッチ回路にそれぞれが
接続され,第1のラッチ回路の上記出力の切り換わりに従い,遅延時間間
隔の間,上記ラッチ出力信号の伝達を遅延させ,第1および第2のMOS
ゲート型パワー半導体デバイスの同時導通を防止する,高圧側のデッドタ
イム遅延回路および低圧側のデッドタイム遅延回路と,高圧側デッドタイ
ム遅延回路および低圧側デッドタイム遅延回路にそれぞれ接続され,入力
制御端子に印加された信号に応じて第1および第2のMOSゲート型パワ
ー半導体デバイスをオンおよびオフさせるための高圧側および低圧側出力
端子をそれぞれ有する高圧側ドライバ回路および低圧側ドライバ回路と,
外部タイミングコンデンサに接続され,外部タイミングコンデンサの電圧
がしきい値電圧より低いときに,高圧側および低圧側出力の供給を停止す
るシャットダウン回路とからなる。シャットダウン回路は,外部タイミン
グコンデンサの電圧をしきい値電圧と比較するしきい値電圧検出回路を備
え,しきい値電圧検出回路は高圧側及び低圧側のデッドタイム遅延回路に
出力を供給する第2のラッチ回路に接続されている。」(段落【0025
】)
-27-

オ発明の実施の形態
「以下,添付の図面を用いて本発明に係る安定器集積回路の実施形態を
説明する。本発明は,図3に示すような単純な回路を用いて,そのIC内
部の回路構成を改変することにより実現できる。」(段落【0030】)
「図5は,図3の回路に包含されるのに好適な本発明に係るICチップ
30の回路ブロック図である。チップ30の8本のピンが図5においても
同様に用いられる。図5に示される全ての回路ブロックは共通のシリコン
チップに典型的に集積化される。」(段落【0031】)
「本発明は,これらの機能の全てを,前述の特許において開示されたI
R2155やIR2151のICのようにIC内部で実現しているが,さ
らに,CTピンを使用した新しいシャットダウン機能も備えている。本発
明によれば,以下の2つのさらなる回路ブロックが追加されている。すな
わち,(1)CT検出用の第3のコンパレータ118および(2)シャッ
トダウンラッチ回路124が追加されている。入力ピンCTは,CTピン電
圧が分圧回路112により供給される所定のしきい値(VR3として示さ
れる)よりも低くなるときを検出する第3のコンパレータ118の負入力
に接続される。そのとき,第3のコンパレータ118は,その出力をシャ
ットダウンラッチ回路124および低圧側のデッドタイム遅延回路130
に供給する。シャットダウンラッチ回路124の出力は,次に,高圧側の
デッドタイム遅延回路126の入力に供給される。」(段落【0039
】)
「第3のコンパレータ118が状態を変化させるときのしきい値電圧V
R3は,自己発振に対して用いられるしきい値電圧VR2より低い値に選
択される。その動作例を図6に示す。ここでは,VR1およびVR2の値
は,それぞれ2/3VCC,1/3VCCに選択され,また,VR3の値は便
宜上,最初は1/6VCCに選択されている。なお,VR3<VR2<VR
-28-

1の関係を満たすかぎり,他の特別な比率が選択されてもよい。」(段落
【0040】)
「CTピン電圧がVR3を越えると,(1)低圧側ゲート駆動出力L0は
デッドタイム遅延時間td経過後,「ハイ」になり,低圧側MOSFET
42をオンし,(2)バイアス回路132は,発振コンパレータ(Nコン
パレータ)114,Pコンパレータ116および第3のコンパレータ11
8,高圧側のデッドタイム遅延回路(TEADH回路)126および低圧
側のデッドタイム遅延回路(TEADL回路)130に電力を供給するよ
うに制御され,(3)RTピンは発振ラッチ(シャットダウンラッチ回
路)124により「ハイ」に保持され,(4)CTピンは抵抗16を介し
て充電し続ける。」(段落【0043】)
「通常動作の間,CTピン電圧がVR3を越えた後では,自己発振が生
じ,ハーフブリッジ回路の出力VSが台形状の出力で切り換わる。」(段
落【0044】)
「CTピンが2/3VCCに達したとき,Nコンパレータ114はRSラ
ッチ回路120に負のリセット信号を与える。この負のリセット信号によ
りRSラッチ回路120の出力(RTおよびその補数RT/N)は論理状態
を反転し,RTピンは「ロー」になる(RT/Nは「ハイ」になる)。IC
30のこの特別な実施形態において,RTピンはL0に対する低圧側信号経
路を駆動し,また,この出力と同位相である。ここで,RTとL0の位相の
関係は任意である;たとえ,起動中において最初にL0が出力される必要
があるとしても,このICの一部のユーザにはRTがL0と異なる位相であ
ることを必要とする人もいる。結果として,RTが「ロー」になったと
き,出力L0は「ロー」に駆動され,低圧側のパワーMOSFET42を
オフする。RTからL0への信号経路はできるだけ高速(遅延が最小)にな
るように意図して形成され,また,RT/NからH0へのターンオフ伝達遅
-29-

延に正確に一致するように設計される。これにより,高圧側の駆動回路と
低圧側の駆動回路での伝達遅延が一致しなくても,ハーフブリッジの出力
VSでのデューティ周期をその所望の50%レベルから系統的にオフセッ
トするようなことはない。」(段落【0045】)
「RTの論理レベルが「ハイ」から「ロー」に切り換わったとき,RT/
N(第2のRSラッチ回路120出力)は「ハイ」になる。この後者の信
号は高圧側のデッドタイム遅延回路(TDEADH回路)126を駆動す
る。そして,デッドタイム遅延回路126はレベルシフトパルス発生回路
(PGEN)128を駆動する。そして,レベルシフトパルス発生回路1
28は高圧側の回路に対する高圧側のオン/オフ信号のレベルシフトを行
う。デッドタイム遅延回路126,130は,(1)パワーMOSFET
40および42にクロス導通デッドタイム(acrossconductiondead
time)を与えるために,また,(2)LC共振周波数(負荷インピーダン
スが誘導的になる)より大きい周波数を駆動するためのゼロ電圧切り換え
を促進するために,「ターンオン」信号に対して僅かな遅延(例えば,1
μsec)を発生するように設計されている。反対に,これらのデッドタイ
ム遅延回路は,ゲートドライバ138および142に対する「ターンオ
フ」信号に,できるだけ小さい遅延を付加するように設計されている。高
圧側のデッドタイム遅延回路(TDEADH)126のタイムアウト期間
(例えば,1μsec)の後,レベルシフトパルス発生回路(PGEN)1
28には,高圧側のゲートドライバ138に対する「ターンオン」信号を
変換するための論理信号が与えられる。dv/dtフィルタ回路134
は,レベルシフトパルス発生回路128により出力される短いパルス(例
えば,50−200nsec)を識別し,これらのパルスをラッチ回路(HS
LATCH)136に対する「セット」および「リセット」信号に変換す
る。RT/Nが「ハイ」になることは,ラッチ回路(HSLATCH)1
-30-

36の入力における「セット」信号に対応し,それはゲートドライバ(H
SDRIVER)回路138にH0出力を「ハイ」に駆動するための命令
を与える。」(段落【0046】)
「さらに,RTピンが「ハイ」から「ロー」の電位へ切り換わること
で,抵抗16により,2/3VCCのしきい値(分圧回路112ブロックに
より設定される)から1/3VCCのしきい値(これもまた分圧回路112
ブロックにより設定される)までコンデンサ14の放電が開始される。1
/3VCCのしきい値に達すると,Pコンパレータ116の出力は「ハイ」
になり,RSラッチ回路(RSLATCH)120に「セット」信号を与
える。この「セット」信号はRTを「ハイ」に,RT/Nを「ロー」に駆動
し,ハーフブリッジの出力VSを「ロー」にする。RTとCTとの間の逆位
相関係は,VCC電位及び温度と無関係に50%デューティ周期での自己発
振を生じる。このデューティ周期の制御(RTからL0まで及びRT/Nか
らH0までの正確に一致させたターンオフ伝達遅延を伴う)は,それぞ
れ,ハーフブリッジの出力VSで50%のデューティ周期を生ずる。」
(段落【0047】)
「もし,通常動作時に,コンデンサ14の放電を触発する故障が発生す
ると,ゲートドライバ出力の両方が不能になり,ハーフブリッジの出力は
発振を停止する。故障状態が終了すると,RTピンの電圧は自動再起動の
ために「ハイ」のままに保持される。」(段落【0048】)
「もし,ランプの取り外しによる故障状態で,かつ,図3の回路が用い
られている場合,CTピンは放電され,また両ゲートドライバ出力はシャ
ットダウンする。ランプが交換されたときは,図3に示すトランジスタ6
0はオフし,コンデンサ14は再度充電を行う。」(段落【0049】)
「自動再起動機能は図5におけるシャットダウンラッチ回路124によ
り実現され,また,ランプのユーザはシステムを再起動するためにランプ
-31-

のパワースイッチを切り換える必要がない。」(段落【0050】)
「なお,本発明は,上記の特別な実施形態において説明されてきたが,
他の多くの変形例や改変や利用が当業者にとって明らかになるであろう,
それ故,本発明は発明の詳細な説明の中で開示された内容に限定されず,
特許請求の範囲にのみ制限される。」(段落【0051】)
カ発明の効果
「本発明のランプを駆動する集積回路によれば,ランプを駆動する駆動
回路の駆動出力の双方が不能になりランプが故障したとき,または,ラン
プが取り外されたときに,駆動回路の構成部品を損失から保護する。ま
た,ランプ交換時において,本集積回路が自動的にランプ駆動回路を再起
動するため,ユーザはランプのパワースイッチを切り換える必要がな
い。」(段落【0052】)
(3)ア
上記(2)の本件明細書1の記載,乙12(被控訴人社員Aの陳述書)及
び弁論の全趣旨によれば,次の事実が認められる。
(ア)
本件特許発明1は,ランプを駆動する集積回路において,ランプが
故障し又はランプが取り外されたときに,駆動回路の構成部品を損失か
ら保護し,ランプ交換時に集積回路が自動的に駆動回路を再起動する安
定器集積回路を提供するものである。
(イ)
従来技術としては,次のようなものがあったが,次のような欠点が
あった。

従来技術として,ランプが故障し又は取り外されると,入力制御コ
ンデンサ14のグランドへの分路を形成するためのトランジスタ60
がオンし,IC30のCTピンがトランジスタ60によりグランドに
接続され,それにより,ICの自己発振(出力の切換え)が停止する
ものがある(本件明細書1【図3】の回路)。
しかし,この場合,MOSFET42はオンのままであって,MO
-32-

SFET40及び42の両方がシャットダウンされるわけではないの
で,IC30が再起動したときに,駆動回路の構成部品を損失させる
おそれがあるという欠点がある。

従来技術として,ランプが故障又は取り外されると,SCR70が
抵抗72を介してVCCピンのグランドへの分路を形成し,不足電圧ロ
ックアウト回路によってMOSFET40及び42の両方がシャット
ダウンされるものがある(本件明細書1【図4】の回路)。
この場合,MOSFET40及び42の両方がシャットダウンされ
るので,上記aの従来技術のような欠点はないが,①ソケット内でラ
ンプが交換され,故障状態が終了したときに,チップに供給される電
源電圧VCCがその不足電圧のしきい値以下に放電されているため,全
体の電力上昇手順が繰り返されなければならない,②SCR70が高
価である,③電源電圧が急速に0Vになった場合,不足電圧ロックア
ウト回路が働いてMOSFET40及び42の両方をオフにする前
に,パワーMOSFETのゲートを制御するゲート駆動回路への給電
が停止してしまうことがあり,その場合は,両方のパワーMOSFE
Tをオフにできないことがあるので,VCCピンでのdv/dtを緩や
かに降下させるようにするために,抵抗72がVCCコンデンサ放電経
路に含まれなければならない,といった欠点がある。
(ウ)
本件特許発明1は,「外部タイミングコンデンサ上の電圧からなる
上記ロー論理レベル信号がしきい値電圧より低いときに,上記第1およ
び第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスをターンオンおよびター
ンオフさせるための高圧側および低圧側出力の上記供給を停止させるた
めの上記ロー論理レベル信号に接続されたシャットダウン回路とを有す
る自己発振駆動回路」(本件明細書の「特許請求の範囲」請求項5)を
備えることによって,MOSFET40及び42の両方をシャットダウ
-33-

ンするが,上記(イ)①∼③のような欠点がなく,ソケット内でランプが
交換され,故障状態が終了したときに,自動的にかつ速やかに,駆動回
路が再起動される安定器集積回路を提供するものである。

なお,控訴人は,上記ア(イ)bの従来技術につき,自己発振駆動回路の
発振を停止するだけで,本件特許発明1のように第1および第2のMOS
ゲート型パワー半導体デバイスの両方をターンオフするものではないと主
張する。しかし,この主張は,上記(2)の本件明細書1(甲3)の記載及
び上記乙12に照らして採用することはできない。上記ア(イ)bの従来技
術は,上記のとおり,MOSFET40及び42の両方をシャットダウン
するものであり,また,電源電圧が急速に0Vになった場合,両方のMO
SFETがオフされないことがあるという問題点も抵抗72によって解決
することができるものであるから,通常の動作をする限りMOSFET4
0及び42の両方をシャットダウンすることができるものである。
(4)
本件特許発明1の構成要件1−F,1−Hにいう「外部タイミングコン
デンサ」について,その意義を明示的に定義した記載は,本件明細書1(甲
3)中にはないが,「外部コンデンサ」ではなく「外部タイミングコンデン
サ」という用語が用いられていること,及び,以下のとおり,本件明細書1
においては,構成要件1−F,1−Hにいう「外部タイミングコンデンサ」
について,抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定め
るコンデンサである旨の記載しかないことからすると,構成要件1−F,1
−Hにいう「外部タイミングコンデンサ」について,抵抗との組み合わせに
より自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサを意味すると解すべ
きである。

本件明細書1(甲3)においては,上記(2)エのとおり,「課題を解決
するための手段」の項で,「本発明の一態様において」との留保が付され
ているものの,「外部タイミングコンデンサ」の電圧からなるロー論理レ
-34-

ベル信号が,第1及び第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスをオン
及びオフに切り替える周波数を制御する第1のラッチ回路と接続されてい
るタイマ回路に入力されること,並びに,外部タイミングコンデンサの電
圧をしきい値電圧と比較し,外部タイミングコンデンサの電圧がしきい値
電圧より低いときに,高圧側及び低圧側出力の供給を停止すること(シャ
ットダウン回路)が記載されている。したがって,「課題を解決するため
の手段」の項では,「外部タイミングコンデンサ」について,第1及び第
2のMOSゲート型パワー半導体デバイスをオン及びオフに切り替える周
波数を制御する第1のラッチ回路と接続されているタイマ回路に接続され
ており,かつ,「外部タイミングコンデンサ」の電圧が,しきい値電圧よ
り低いとシャットダウン回路が起動されるものが記載されており,これ以
外の「外部タイミングコンデンサ」は記載されていない。

本件明細書1(甲3)においては,上記(2)オのとおり,「発明の実施
の形態」の項で,「外部タイミングコンデンサ」とされているものはコン
デンサ14をおいて他にない。そして,上記(2)イの「従来の技術」の項
における記載を参照すると,コンデンサ14と抵抗16は,発振周波数を
制御するものとされ,タイミングコンデンサ14とタイミング抵抗16と
の間のノードに接続されたCTピンでの信号がHOとLOの両出力を制御す
るものとされていることは明らかである。さらに,上記(2)オのとおり,
「発明の実施の形態」の項には,①起動後,CTピン電圧がしきい値電圧
VR3を越えると,自己発振が生じ,CTピン電圧がしきい値電圧VR1
に達すると,しきい値電圧VR2に達するまでコンデンサ14が放電し,
このようにVR1とVR2の間で電圧が上下することによって,第1及び
第2のMOSゲート型パワー半導体デバイスのオン及びオフが切り替えら
れること,②ランプの取り外しによる故障状態が生じた場合,CTピンは
放電され,CTピン電圧が所定のしきい値VR3より低くなったときは,
-35-

第3のコンパレータ118の出力がシャットダウンラッチ回路124及び
低圧側のデッドタイム遅延回路130に供給され,次いで,シャットダウ
ンラッチ回路124の出力が高圧側のデッドタイム遅延回路126に供給
され,その結果,両ゲート出力はシャットダウンし,さらに,故障状態が
解消されたとき(ランプが交換されたとき)は,コンデンサ14が再度充
電を行うことが記載されている。

そうすると,本件明細書1(甲3)には,構成要件1−F,1−Hにい
う「外部タイミングコンデンサ」について,抵抗との組み合わせにより自
己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサである旨の記載しかない
ということができる。
(5)ア
一方,証拠(甲5∼11)によれば,本件特許発明1についての出願
経過は,次のとおりであることが認められる。
(ア)
本件特許発明1については,平成11年1月7日付けで,特許庁審
査官から,下記の各文献に記載された発明に基づいて容易に発明するこ
とができたから進歩性がない旨の拒絶理由通知(甲6)が出された。同
拒絶理由通知には,その理由として,「引用文献1,2にはシャットダ
ウン回路を有するものが,引用文献1∼3には遅延回路を有するものが
記載されており,本願発明が,当業者にとって格別なものであるとは認
められない。」と記載されていた。

・特開平8−37092号(発明の名称「安定器回路用MOSゲート駆
動装置」,出願人インターナショナル・レクティファイヤー・コーポ
レーション[控訴人],公開日平成8年2月6日。引用文献1。甲
7)
・特開平6−188090号(発明の名称「可変制御電流検知バラス
ト」,出願人レスティシャンバラストインコーポレーテッド,公開日
-36-

平成6年7月8日。引用文献2。甲8)
・特開平6−252723号(発明の名称「負荷駆動回路」,出願人日
本電装株式会社,公開日平成6年9月9日。引用文献3。甲9)
(イ)
そこで,控訴人は,平成11年7月29日付けで特許請求の範囲等
を補正(本件補正。甲10)し,同日付けで意見書(本件意見書,甲1
1)を提出した。
(ウ)本件意見書には,次の記載がある(甲11)。

「請求項1におきましては,引例との差異をより明確にするため,
シャットダウン回路が外部タイミングコンデンサの電圧に基いて動作
する旨を追加する補正を行いました。」(1頁9行∼11行)

「請求項4(旧請求項5)におきましては,請求項1との対応を正
確にするため『外部タイミングコンデンサ』を『上記外部タイミング
コンデンサ』に変更しました。」(1頁16行∼18行)

「請求項5(旧請求項6)におきましても請求項1と同様の補正を
行いました。」(1頁19行)

「本願発明は,障害が発生し,外部タイミングコンデンサ14の電
圧すなわち外部タイミングコンデンサに接続されるICのピン(CT
ピン)の電圧が所定のしきい値レベルより低くなった場合に,スイッ
チングトランジスタに対するゲート駆動信号を不能にすることによっ
て,スイッチングトランジスタを完全にシャットダウンするもので
す。これによりスイッチングトランジスタの破壊のようなICに対し
て非常に有害な状況の発生を確実に防止するという効果を有しま
す。」(1頁21行∼26行)

「引用文献1の回路は,不足電圧状態の発生時において,ハーフブ
リッジ接続されたトランジスタ(引用文献中,トランジスタ20,2
1)のスイッチング動作を停止させるようにのみ動作し,CTピン上
-37-

での電圧降下に基いては活動化されず,トランジスタのゲート駆動信
号をターンオフするというような動作は行ないません。」(4頁2行
∼6行)

「本引例のシャットダウン回路は,ランプの障害または除去による
負荷電流変化に基いてシャットダウンするものでありますが,本願発
明のように,外部タイミングコンデンサ(CTピン)の電圧降下を検
出し,これに基いてトランジスタのゲート駆動信号をターンオフさせ
るものではありません。」(4頁10行∼14行)

「本願発明は,障害が発生し,外部タイミングコンデンサ14に接
続されるCTピンの電圧が所定のしきい値レベルより低くなったとき
に,図6に示すようにスイッチングトランジスタ40,42に対する
ゲート信号HOLOを不能状態(ロー)にすることによって,スイッチ
ングトランジスタ40,42の完全なシャットダウンを可能とするも
のです。このように障害発生を外部タイミングコンデンサ14の電圧
(すなわちCTピン)の電圧により検出し,スイッチングトランジス
タ40,42を完全にシャットダウンするという点はいかなる引例に
おいても開示されておらず,また,示唆もされておりません。」(4
頁22行∼29行)

「以上,説明しましたように,本願発明の特徴である,障害発生時
に外部タイミングコンデンサの電圧(すなわちCTピンの電圧)が所
定のしきい値レベルより低くなった場合に,スイッチングトランジス
タに対するゲート駆動信号を不能にすることによって,それらのスイ
ッチングトランジスタを完全にシャットダウンするための構成は,上
記のいかなる引例においても開示されておらず,また,示唆もされて
おりません。また,本願発明は,障害発生時にスイッチングトランジ
スタを完全にシャットダウンすることにより,障害から回路を確実に
-38-

保護できるという点において引例に対して優れた効果を有しておりま
す。」(6頁7行∼14行)

ところで,本件特許1(甲3)の請求項1における「外部タイミングコ
ンデンサの電圧からなるロー論理レベル信号に接続された入力制御端子を
有するタイマ回路と,上記タイマ回路に接続され,上記第1および第2の
MOSゲート型パワー半導体デバイスをオンおよびオフに切り換える周波
数を制御し,また,上記入力制御端子に印加される上記信号に応じて切り
換わる出力を供給する第1のラッチ回路と」との記載,及び,請求項4に
おける「請求項1に記載の集積回路において,上記タイマ回路は,上記M
OSゲート型パワー半導体デバイスがオンおよびオフされる周波数を制御
するための第2の入力制御端子を有し,上記第1および第2の入力制御端
子は上記タイマ回路の発振周波数を設定するための上記外部タイミングコ
ンデンサおよび外部タイミング抵抗に接続されることを特徴とする集積回
路。」との記載からすると,請求項1及び請求項4の「外部タイミングコ
ンデンサ」が抵抗との組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を
定めるコンデンサであることは明らかである。
上記ア(ウ)a及びbの本件意見書の記載は,本件特許1の請求項1及び
請求項4が上記のようなものであることを当然の前提として,これらの請
求項における「外部タイミングコンデンサ」がその電圧の低下により,シ
ャットダウン回路を起動させる機能も兼ね備えることを明示したものであ
ると認められる。そして,上記ア(ウ)cのとおり,本件意見書において,
本件特許発明1(請求項5)についても請求項1と同様の補正をしている
と述べている以上,本件特許発明1における「外部タイミングコンデン
サ」を請求項1及び請求項4における「外部タイミングコンデンサ」と別
異なものと解すべき理由はない。また,上記ア(ウ)d∼hの本件意見書の
記載も,「外部タイミングコンデンサ」が抵抗との組み合わせにより自己
-39-

発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサであることを説明するもの
である。
そうすると,本件特許発明1についての出願経過に照らしても,構成要
件1−F,1−Hにいう「外部タイミングコンデンサ」について,抵抗と
の組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサを
意味すると解すべきであるということができる。
(6)
控訴人は,本件特許発明1の特許請求の範囲には単に「外部タイミング
コンデンサ」と記載されているだけであるから,当該記載から自己発振駆動
回路の発振の周波数を定めるコンデンサのみを意味すると限定解釈する理由
はないし,特許請求の範囲に記載の発明は実施例に限定されるわけではな
く,また,本件補正は,本願発明の技術的意義をより明確にするためになさ
れたもので,新規性・進歩性欠如を理由とするものではないから,構成要件
1−F,1−Hにいう「外部タイミングコンデンサ」について,抵抗との組
み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサを意味す
ると限定解釈することは許されないなどと主張する。
しかし,「外部タイミングコンデンサ」という用語が用いられているこ
と,本件明細書1には,「外部タイミングコンデンサ」が抵抗との組み合わ
せにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサである発明の開
示しかなく,それ以外の発明の開示がないこと,及び,本件意見書の上記記
載に照らせば,本件特許発明1の「外部タイミングコンデンサ」を,抵抗と
の組み合わせにより自己発振駆動回路の発振周波数を定めるコンデンサであ
ると解すべきである。また,本件補正の目的によってこの認定が左右される
ことはない。したがって,控訴人の上記主張は採用することができない。
(7)
本件ランプ安定回路1においては,コンデンサC2が抵抗R2との組み
合わせにより発振周波数を定めており,コンデンサC11は,その電圧がし
きい値電圧より低いとシャットダウン回路を起動させるものであるとして
-40-

も,発振周波数を定めているものではない。
そうすると,本件ランプ安定回路1のコンデンサC11は,構成要件1−
F,1−Hにいう「外部タイミングコンデンサ」には当たらず,本件ランプ
安定回路1は,構成要件1−F,1−Hを充足しないから,本件ランプ安定
回路1は,本件特許発明1の技術的範囲に属しないものと認められる。
3争点2(本件ランプ安定回路1は,本件特許発明1と均等か。)について
(1)
特許権侵害訴訟において,相手方が製造等する製品又は用いる方法が特
許発明の技術的範囲に属するかどうかを判断するに当たっては,願書に添付
した明細書の特許請求の範囲の記載に基づいて特許発明の技術的範囲を確定
しなければならず(特許法70条),特許請求の範囲に記載された構成中に
対象製品等と異なる部分が存する場合には,上記対象製品等は,特許発明の
技術的範囲に属するということはできない。しかし,特許請求の範囲に記載
された構成中に対象製品等と異なる部分が存する場合であっても,①上記部
分が特許発明の本質的部分ではなく(本質的部分),②上記部分を対象製品
等におけるものと置き換えても,特許発明の目的を達することができ同一の
作用効果を奏するものであって(置換可能性),③上記のように置き換える
ことに,当該発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者(当業
者)が,対象製品等の製造等の時点において容易に想到することができたも
のであり(置換容易性),④対象製品等が特許発明の特許出願時における公
知技術と同一又は当業者がこれから出願時に容易に推考できたものではなく
(非容易推考),かつ,⑤対象製品等が特許発明の特許出願手続において特
許請求の範囲から意識的に除外されたものに当たるなどの特段の事情(意識
的除外)もないときは,上記対象製品等は,特許請求の範囲に記載された構
成と均等なものとして,特許発明の技術的範囲に属するものと解される(最
高裁平成10年2月24日第三小法廷判決・民集52巻1号113頁)。
したがって,上述した均等論が適用されるためには,上記①で述べたよう
-41-

に,上記差異部分が特許発明の本質的部分でないことが前提となる。
(2)
前記2(1)∼(6)によれば,本件特許発明1は,外部タイミングコンデン
サに接続されたCTピンを使用したシャットダウン機能を備えたものであ
る。すなわち,本件特許発明1においては,第3のコンパレータにより,外
部タイミングコンデンサに接続されたCTピン電圧が,自己発振に対して用
いられるしきい値電圧VR1及びVR2のいずれよりも低い値として選択さ
れたしきい値電圧VR3よりも低くなったことを検出したときは,第3のコ
ンパレータがその出力をシャットダウンラッチ回路及び低圧側のデッドタイ
ム遅延回路に供給し,シャットダウンラッチ回路の出力が高圧側のデッドタ
イム遅延回路に供給され,両ゲートドライバ出力がシャットダウンする。こ
のようにして,本件特許発明1は,高圧側及び低圧側のMOSゲート型パワ
ー半導体デバイスを完全にシャットダウンするものである。
(3)ところで,安定器集積回路において,故障時に高圧側及び低圧側のMOS
ゲート型パワー半導体デバイスの両方をシャットダウンするものは,前記2
(3)ア(イ)bのとおり,従来技術として存したところ,本件特許発明1は,
上記(2)のような構成を採用することによって,両方のMOSゲート型パワ
ー半導体デバイスを確実にシャットダウンするとともに,故障状態が終了し
たときには,自動的にかつ速やかに駆動回路が再起動されるようにしたもの
である。
そして,前記2(5)ア(ウ)のとおり,控訴人は,本件意見書(甲11)に
おいて,上記(2)のような構成を採用したことが本件特許発明1の特徴であ
る旨を述べており,シャットダウン回路が外部タイミングコンデンサの電圧
に基づいて動作する旨を追加する本件補正を行って特許査定を受けたもので
あるということができる。
以上によれば,本件特許発明1は,外部タイミングコンデンサの電圧,す
なわち外部タイミングコンデンサに接続されるCTピンの電圧が所定のしき
-42-

い値電圧より低くなったときに,高圧側及び低圧側のMOSゲート型パワー
半導体デバイスに対するゲート駆動信号をターンオフし,それにより,高圧
側及び低圧側のMOSゲート型パワー半導体デバイスを完全にシャットダウ
ンすることをその発明の本質的特徴とするものであることが認められる。
(4)
したがって,本件ランプ安定回路1においては,外部タイミングコンデ
ンサが接続されたCTピンとは異なるピン(SDピン)によって,外部タイ
ミングコンデンサC2とは別のコンデンサC11にシャットダウン回路が接
続されているのに対し,本件特許発明1においては,シャットダウン回路が
CTピンによって外部タイミングコンデンサに接続されているという差異
は,本件ランプ安定回路1と本件特許発明1との本質的な差異であるから,
本件ランプ安定回路1の構成は,本件特許発明1と均等なものであると解す
ることはできない。
4結論
以上によれば,本件特許権1及び2の侵害を理由とする控訴人の本訴請求
は,その余について判断するまでもなく,いずれも理由がない。
よって,これと結論を同じくする原判決は相当であって,本件控訴は理由が
ないから棄却することとして,主文のとおり判決する。
知的財産高等裁判所第2部
裁判長裁判官




裁判官



-43-

裁判官




-44-

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